Верификация схемы включает в себя несколько важных шагов, помогающих выявить потенциальные ошибки, а также получить данные, необходимые для моделирования. На этом этапе топология анализируется и сравнивается со схемой, чтобы убедиться в целостности проекта. Затем проект анализируется на кратковременные и долговременные отказы, которые, если будут найдены, будут показаны разработчику для исправления.
И, наконец, создаётся детализированная модель устройства с паразитными параметрами и сохраняется в формат, читаемый симулятором, чтобы разработчики могли убедиться, что их проект соответствует спецификациям (временным, мощностным и т. п.)
Экстракция паразитных параметров Calibre® xACT™
Calibre® xACT™ обеспечивает высокопроизводительную экстракцию паразитных параметров для цифровых, смешанных, аналоговых и высокочастотных проектов. Благодаря быстрому алгоритму расчёта трёхмерных полей и параллельной архитектуре, Calibre xACT обладает точностью до аттофарада и производительностью, необходимой для многомиллионных проектов.
Трёхмерная экстракция паразитных параметров Calibre® xACT 3D
Calibre® xACT 3D содержит инструмент для расчёта трёхмерных полей, построенный на передовых алгоритмах, для точного расчёта паразитных эффектов на уровне транзисторов. При использовании Calibre xACT 3D на многопроцессорной платформе, время экстракции сопоставимо с инструментами, работающими на основе правил.
Оценка надёжности Calibre® PERC™
Calibre® PERC™, новейшее решение Mentor Graphics в области оценки надёжности, позволяет проверить цепи на устойчивость к электростатическому разряду, электрическое перенапряжение, выявить сигналы, проходящие через несколько доменов питания и другие проблемы надёжности.
Экстракция паразитных параметров Calibre® xRC™
Calibre® xRC™ это надёжный инструмент экстракции паразитных параметров, предоставляющий данные для точного пост-топологического анализа и моделирования. Calibre xRC способен извлекать паразитные параметры соединений иерархически.
В результате получаем компактную иерархическую структуру с паразитными данными на уровне транзисторов, которую можно использовать в таких системах моделирования, как HSIM. Благодаря использованию иерархии и изоморфизма во время моделирования, Calibre xRC и HSIM достигают невероятной производительности при моделировании больших проектов, при этом имея точность SPICE-симулятора.
Экстракция паразитных индуктивностей Calibre® xL
С увеличением тактовой частоты, начинает сказываться индуктивность соединений, что может оказать заметное влияние на поведение и производительность устройства. Экстракция паразитных индуктивностей необходима для точного физического моделирования и правильного функционирования высокочастотных, смешанных аналого-цифровых и заказных цифровых субмикронных проектов.
Calibre® xL предлагает разработчикам быструю и точную экстракцию для всего кристалла частотно-зависимой индуктивности и сопротивления и автоматически учитывает изменение пути обратного тока с изменением частоты. Результаты Calibre xL коррелируют с расчётами полей, их точность была проверена на готовых кристаллах.